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  Macro Defect Inspection of TFT-LCD Color Filter Glass: System and Algorithm

Son, H., Kim HW, Lee, H., & Jeong, D. (2005). Macro Defect Inspection of TFT-LCD Color Filter Glass: System and Algorithm. In EOS Conference on Industrial Imaging and Machine Vision (pp. 129-130). Hannover, Germany: European Optical Society.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0013-D561-F 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0013-D562-D
資料種別: 会議論文

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作成者

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 作成者:
Son, HI1, 著者           
Kim HW, Lee, HH, 著者
Jeong, DH, 著者
所属:
1Department Human Perception, Cognition and Action, Max Planck Institute for Biological Cybernetics, Max Planck Society, ou_1497797              

内容説明

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資料詳細

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言語:
 日付: 2005-06
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子（DOI, ISBNなど）: ISBN: 3-00-016361-1
BibTex参照ID: 6466
 学位: -

関連イベント

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イベント名: EOS Conference on Industrial Imaging and Machine Vision
開催地: München, Germany
開始日・終了日: -

訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: EOS Conference on Industrial Imaging and Machine Vision
種別: 会議論文集
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: Hannover, Germany : European Optical Society
ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 129 - 130 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -