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  Compressed Sensing and Bayesian Experimental Design

Seeger, M., & Nickisch, H. (2008). Compressed Sensing and Bayesian Experimental Design. Proceedings of the 25th International Conference on Machine Learning (ICML 2008), 912-919.

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基本情報

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資料種別: 会議論文

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作成者

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 作成者:
Seeger, MW1, 著者           
Nickisch, H1, 著者           
Cohen, 編集者
W., W., 編集者
McCallum, A., 編集者
Roweis, S., 編集者
所属:
1Department Empirical Inference, Max Planck Institute for Biological Cybernetics, Max Planck Society, ou_1497795              

内容説明

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キーワード: -
 要旨: We relate compressed sensing (CS) with Bayesian experimental design and provide a novel efficient approximate method for the latter, based on expectation propagation. In a large comparative study about linearly measuring natural images, we show that the simple standard heuristic of measuring wavelet coefficients top-down systematically outperforms CS methods using random measurements; the sequential projection optimisation approach of (Ji amp;amp;amp; Carin, 2007) performs even worse. We also show that our own approximate Bayesian method is able to learn measurement filters on full images efficiently which ouperform the wavelet heuristic. To our knowledge, ours is the first successful attempt at "learning compressed sensing" for images of realistic size. In contrast to common CS methods, our framework is not restricted to sparse signals, but can readily be applied to other notions of signal complexity or noise models. We give concrete ideas how our method can be scaled up to large signal representations.

資料詳細

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言語:
 日付: 2008-07
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子(DOI, ISBNなど): URI: http://icml2008.cs.helsinki.fi/
DOI: 10.1145/1390156.1390271
BibTex参照ID: 5135
 学位: -

関連イベント

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イベント名: 25th International Conference on Machine Learning
開催地: Helsinki, Finland
開始日・終了日: -

訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: Proceedings of the 25th International Conference on Machine Learning (ICML 2008)
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: New York, NY, USA : ACM Press
ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 912 - 919 識別子(ISBN, ISSN, DOIなど): -