X-ray diffraction analysis of shape-memory transformations under load in Ni-Ti 
thin films

Schaab, J.

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X-ray diffraction analysis of shape-memory transformations under load in Ni-Ti thin films

Schaab, J. (2012). X-ray diffraction analysis of shape-memory transformations under load in Ni-Ti thin films. Diploma Thesis, Universität Stuttgart, Stuttgrat.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000E-BD31-F 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0024-C5FE-D

資料種別: 学位論文

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Schaab, J.^{1, 2}, 著者

所属:
1Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, DE, ou_1497644
2Institut für Materialwissenschaft, Universität Stuttgart, Heisenbergstr. 3, 70569 Stuttgart, ou_persistent22

内容説明

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キーワード: Abt. Mittemeijer

要旨: -

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言語: eng - English

日付: 受理: 2012-05-21出版: 2012-05-21

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: Stuttgrat : Universität Stuttgart

目次: -

査読: -

識別子（DOI, ISBNなど）: -

学位: 学士号 (Diploma)

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