Barty, A., Caleman, C., Aquila, A., Timneanu, N., Lomb, L., White, T. A., Andreasson, J., Arnlund, D., Bajt, S., Barends, T. R. M., Barthelmess, M., Bogan, M. J., Bostedt, C., Bozek, J. D., Coffee, R., Coppola, N., Davidsson, J., DePonte, D. P., Doak, R. B., Ekeberg, T., Elser, V., Epp, S. W., Erk, B., Fleckenstein, H., Foucar, L., Fromme, P., Graafsma, H., Gumprecht, L., Hajdu, J., Hampton, C. Y., Hartmann, R., Hartmann, A., Hauser, G., Hirsemann, H., Holl, P., Hunter, M. S., Johansson, L., Kassemeyer, S., Kimmel, N., Kirian, R. A., Liang, M., Maia, F. R. N. C., Malmerberg, E., Marchesini, S., Martin, A. V., Nass, K., Neutze, R., Reich, C., Rolles, D., Rudek, B., Rudenko, A., Scott, H., Schlichting, I., Schulz, J., Seibert, M. M., Shoeman, R. L., Sierra, R. G., Soltau, H., Spence, J. C. H., Stellato, F., Stern, S., Strüder, L., Ullrich, J., Wang, X., Weidenspointner, G., Weierstall, U., Wunderer, C. B., & Chapman, H. N. (2012). Self-terminating diffraction gates femtosecond X-ray nanocrystallography measurements. Nature Photonics, 6(1), 35-40. doi:10.1038/nphoton.2011.297.