Fidelity Limits in 3-D Reconstructions - an Appraisal of Techniques for 2-D 
crystals

Saxton, W. O.; Barth, M.; Hegerl, R.; Baumeister, W.

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Fidelity Limits in 3-D Reconstructions - an Appraisal of Techniques for 2-D crystals

Saxton, W. O., Barth, M., Hegerl, R., & Baumeister, W. (1984). Fidelity Limits in 3-D Reconstructions - an Appraisal of Techniques for 2-D crystals.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-752C-2 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-752D-F

資料種別: 会議論文

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Saxton, W. O.¹, 著者
Barth, M., 著者
Hegerl, R.¹, 著者
Baumeister, W.¹, 著者

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1External Organizations, ou_persistent22

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日付: 出版: 1984

出版の状態: 出版

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識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 318308

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