Deutsch
 
Hilfe Datenschutzhinweis Impressum
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT
Zur Ablage hinzufügen
 Lokale TagsFreigabegeschichteDetailsÜbersicht
  The murine Ten-m/Odz genes show distinct but overlapping expression patterns during development and in adult brain

Zhou, X. H., Brandau, O., Feng, K., Oohashi, T., Ninomiya, Y., Rauch, U., et al. (2003). The murine Ten-m/Odz genes show distinct but overlapping expression patterns during development and in adult brain. Gene Expression Patterns, 3(4), 397-405.

Item is

 

einblenden: alle ausblenden: alle

Basisdaten

einblenden: ausblenden:
Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-6B86-B Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-6B87-9
Genre: Zeitschriftenartikel
Alternativer Titel : Gene Expr. Patterns

Externe Referenzen

einblenden:

Urheber

einblenden:
ausblenden:
 Urheber:
Zhou, X. H., Autor
Brandau, O.1, Autor           
Feng, K., Autor
Oohashi, T., Autor
Ninomiya, Y., Autor
Rauch, U., Autor
Fässler, R.2, Autor           
Affiliations:
1External Organizations, ou_persistent22              
2Fässler, Reinhard / Molecular Medicine, Max Planck Institute of Biochemistry, Max Planck Society, ou_1565147              

Inhalt

einblenden:
ausblenden:
Schlagwörter: brain, ten-m, odz, FGF8, Wnt-1, expression, embryonic development, central nervous system
 Zusammenfassung: -

Details

einblenden:
ausblenden:
Sprache(n): eng - English
 Datum: 2003-08
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 123130
ISI: 000185292700002
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

einblenden:

Entscheidung

einblenden:

Projektinformation

einblenden:

Quelle 1

einblenden:
ausblenden:
Titel: Gene Expression Patterns
  Alternativer Titel : Gene Expr. Patterns
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 3 (4) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 397 - 405 Identifikator: ISSN: 1567-133X