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  Computer controlled cryo-electron microscopy - TOM2 a software package for high-throughput applications

Korinek, A., Beck, F., Baumeister, W., Nickell, S., & Plitzko, J. M. (2011). Computer controlled cryo-electron microscopy - TOM2 a software package for high-throughput applications. Journal of Structural Biology, 175(3), 394-405.

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基本情報

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資料種別: 学術論文
その他のタイトル : J. Struct. Biol.

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作成者

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 作成者:
Korinek, A.1, 著者           
Beck, F.1, 著者           
Baumeister, W.1, 著者           
Nickell, S.1, 著者           
Plitzko, J. M.1, 著者           
所属:
1Baumeister, Wolfgang / Molecular Structural Biology, Max Planck Institute of Biochemistry, Max Planck Society, ou_1565142              

内容説明

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キーワード: Electron tomography; Single particle analysis; Automated data acquisition; Batch tomography; Autofocussing
 要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2011-09
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子(DOI, ISBNなど): eDoc: 572103
ISI: 000293807000015
 学位: -

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訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: Journal of Structural Biology
  出版物の別名 : J. Struct. Biol.
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: SAN DIEGO : ACADEMIC PRESS INC ELSEVIER SCIENCE
ページ: - 巻号: 175 (3) 通巻号: - 開始・終了ページ: 394 - 405 識別子(ISBN, ISSN, DOIなど): ISSN: 1047-8477