The X-ray microscopy beamline UE46-PGM2 at BESSY

Follath, R.; Schmidt, J. S.; Weigand, M.; Fauth, K.

doi:10.1063/1.3463201

The X-ray microscopy beamline UE46-PGM2 at BESSY

Follath, R., Schmidt, J. S., Weigand, M., & Fauth, K. (2010). The X-ray microscopy beamline UE46-PGM2 at BESSY. In R., Garrett, I., Gentle, K., Nugent, & S., Wilkins (Eds.), 10th International Conference on Synchrotron Radiation Instrumentation (pp. 323-326). Melville, NY: American Institute of Physics.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4FD3-4 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4FD4-2

資料種別: 会議論文

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Follath, R.¹, 著者
Schmidt, J. S.¹, 著者
Weigand, M.², 著者
Fauth, K.², 著者

所属:
1Helmholtz-Center Berlin, Albert-Einstein-Str. 15, 12489 Berlin, Germany; University Würzburg, Experimental Physics 4, Am Hubland, 97074 Würzburg, Germany;, ou_persistent22
2Dept. Modern Magnetic Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497648

内容説明

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キーワード: MPI für Intelligente Systeme; Abt. Schütz;

要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English

日付: 出版: 2010

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 572147
DOI: 10.1063/1.3463201

学位: -

訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: 10th International Conference on Synchrotron Radiation Instrumentation

種別: 会議論文集

著者・編者:
Garrett, R., 編集者
Gentle, I., 編集者
Nugent, K., 編集者
Wilkins, S., 編集者

所属:
-

出版社, 出版地: Melville, NY : American Institute of Physics

ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 323 - 326 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISBN: 978-0-7354-0782-4

出版物 2

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出版物名: AIP Conference Proceedings

種別: 連載記事

著者・編者:

所属:

出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 1234 通巻号: - 開始・終了ページ: - 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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