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  Direct bandgap measurements in a three-dimensionally macroporous silicon 9R polytype using monochromated transmission electron microscope

Gu, L., Yu, Y., Sigle, W., Usami, N., Tsukimoto, S., Maier, J., Ikuhara, Y., & van Aken, P. A. (2010). Direct bandgap measurements in a three-dimensionally macroporous silicon 9R polytype using monochromated transmission electron microscope. Applied Physics Letters, 97(21):. doi:10.1063/1.3518703.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4F87-0 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4F88-E
資料種別: 学術論文
その他のタイトル : Appl. Phys. Lett.

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作成者

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 作成者:
Gu, L.1, 著者           
Yu, Y.2, 著者
Sigle, W.1, 3, 著者           
Usami, N.4, 著者
Tsukimoto, S.3, 著者           
Maier, J.2, 著者
Ikuhara, Y.4, 著者
van Aken, P. A.1, 著者           
所属:
1Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
2Max Planck Society, ou_persistent13              
3Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
4WPI Advanced Institute for Materials Research, Tohoku University, 980-8577 Sendai, Japan; Institute for Materials Research, Tohoku University, 980-8577 Sendai, Japan; Institute of Engineering Innovation, The University of Tokyo, 113-8656 Tokyo, Japan, ou_persistent22              

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; MPI für Festkörperforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM); Maier;
 要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2010
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 525536
DOI: 10.1063/1.3518703
 学位: -

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出版物 1

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出版物名: Applied Physics Letters
  出版物の別名 : Appl. Phys. Lett.
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: 97 (21) 通巻号: 213102 開始・終了ページ: - 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -