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  Valence-band and chemical-state analyses of Zr and O in thermally grown thin zirconium-oxide films: an XPS study

Bakradze, G., Jeurgens, L. P. H., & Mittemeijer, E. J. (2011). Valence-band and chemical-state analyses of Zr and O in thermally grown thin zirconium-oxide films: an XPS study. The Journal of Physical Chemistry C, 115, 19841-19848. doi:10.1021/jp206896m.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4EB6-E Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4EB7-C
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Bakradze, G.1, Autor           
Jeurgens, L. P. H.1, Autor           
Mittemeijer, E. J.1, 2, Autor           
Affiliations:
1Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497644              
2Universität Stuttgart, Institut für Materialwissenschaft, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Intelligente Systeme; Abt. Mittemeijer;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2011
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 579769
DOI: 10.1021/jp206896m
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: The Journal of Physical Chemistry C
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 115 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 19841 - 19848 Identifikator: -