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  High-resolution core-level spectroscopy study of the ultrathin aluminum oxide film on NiAl(110)

Martin, N. M., Knudsen, J., Blomberg, S., Gustafson, J., Andersen, J. N., Ingelsten, H., Carlsson, P.-A., Skoglundh, M., Stierle, A., & Kresse, G. (2011). High-resolution core-level spectroscopy study of the ultrathin aluminum oxide film on NiAl(110). Physical Review B, 83:. doi:10.1103/PhysRevB.83.125417.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4D30-2 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4D31-F
資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Martin, N. M.1, 著者
Knudsen, J.1, 著者
Blomberg, S.1, 著者
Gustafson, J.1, 著者
Andersen, J. N.1, 著者
Ingelsten, H.1, 著者
Carlsson, P.-A.1, 著者
Skoglundh, M.1, 著者
Stierle, A.2, 著者           
Kresse, G.1, 著者
所属:
1Division of Synchrotron Radiation Research, Lund University, Box 118, SE-22100 Sweden; Competence Center for Catalysis, Chalmers Universtiy of Technology, SE-41296 Göteborg, Sweden; Arbeitsgruppe Festkörperphysik, Grenzflächen Fachbereich 7 Physik, Universität Siegen, Walter-Flex-Str. 3, 57072 Siegen; Institut für Materialphysik, Universität Wien, A-1090 Wien, Austria, ou_persistent22              
2Former Central Scientific Facility ANKA Synchroton Beamline, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497651              

内容説明

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キーワード: MPI für Intelligente Systeme; Abt. Dosch/Rühle;
 要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2011-03-22
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 563154
DOI: 10.1103/PhysRevB.83.125417
 学位: -

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訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: Physical Review B
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: 83 通巻号: 125417 開始・終了ページ: - 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -