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  Characterization of strained semiconductor structures using transmission electron microscopy

Özdöl, V. B. (2011). Characterization of strained semiconductor structures using transmission electron microscopy. PhD Thesis, Christian-Abrechts-Universität zu Kiel, Kiel.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4C83-1 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0024-39DC-1
Genre: Hochschulschrift

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Özdöl, V. B.1, Autor           
Affiliations:
1Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Intelligente Systeme; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2011-07-25
 Publikationsstatus: Angenommen
 Seiten: 118 pages
 Ort, Verlag, Ausgabe: Kiel : Christian-Abrechts-Universität zu Kiel
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 580542
URI: http://macau.uni-kiel.de/servlets/MCRFileNodeServlet/dissertation_derivate_00003953/Burak_Ozdol_Thesis_Final_Vrs.pdf?hosts=
URN: urn:nbn:de:gbv:8-diss-68563
 Art des Abschluß: Doktorarbeit

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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