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  Cross-sectional characterization of electrodeposited, monocrystalline Au nanowires in parallel arrangement

Schneckenburger, M., Kelsch, M., van Aken, P. A., Richter, G., Spatz, J. P., & Rustom, A. (2012). Cross-sectional characterization of electrodeposited, monocrystalline Au nanowires in parallel arrangement. Small, 8(22), 3396-3399. doi:10.1002/smll.201200963.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Schneckenburger, M.1, Autor
Kelsch, M.2, Autor           
van Aken, P. A.2, Autor           
Richter, G.3, Autor           
Spatz, J. P.4, Autor           
Rustom, A.4, Autor           
Affiliations:
1Max Planck Society, ou_persistent13              
2Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
3Central Scientific Facility Thin Film Laboratory, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497640              
4Dept. New Materials and Biosystems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497649              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Intelligente Systeme; Ehemalige Abt. Arzt; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM); Abt. Spatz; ZWE Dünnschichtlabor;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2012
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 617957
DOI: 10.1002/smll.201200963
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Small
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 8 (22) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 3396 - 3399 Identifikator: -