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  Element-specific hysteresis loop measurements on individual 35 nm islands with scanning transmission X-Ray microscopy

Luo, F., Eimüller, T., Amaladass, E., Lee, M. S., Heyderman, L. J., Solak, H. H., & Tyliszczak, T. (2012). Element-specific hysteresis loop measurements on individual 35 nm islands with scanning transmission X-Ray microscopy. Journal of Nanoscience and Nanotechnology, 12(3), 2484-2488. doi:10.1166/jnn.2012.5778.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4B57-B 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4B58-9
資料種別: 学術論文
その他のタイトル : J. Nanosci. Nanotechnol.

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作成者

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 作成者:
Luo, F.1, 著者
Eimüller, T., 著者           
Amaladass, E.2, 著者           
Lee, M. S.1, 著者
Heyderman, L. J.1, 著者
Solak, H. H.1, 著者
Tyliszczak, T.1, 著者
所属:
1Laboratory for Micro- and Nanotechnology, Paul Scherrer Institut, Ch-5232 Villigen PSI, Switzerland;Instituto Madrileno de Estudios Avanzados en Nanociencia (IMDEA), Madrid 28049, Spain;Junior Research Group Magnetic Miroscopy, Experimental Physics, University of Bochum, 44780 Bochum, Germany;Hochschule Kempten, University of Applied Sciences, Bahnhofstr. 61, 87435 Kempten, Germany;Advanced Light Source (ALS), LBNL, 1 Cyclotron Road, Berkeley, CA 94720, USA;, ou_persistent22              
2Former Central Scientific Facility Pelletron Accelerator, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497653              

内容説明

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キーワード: MPI für Intelligente Systeme; Abt. Schütz;
 要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2012
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 610818
DOI: 10.1166/jnn.2012.5778
 学位: -

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訴訟

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出版物 1

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出版物名: Journal of Nanoscience and Nanotechnology
  出版物の別名 : J. Nanosci. Nanotechnol.
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: 12 (3) 通巻号: - 開始・終了ページ: 2484 - 2488 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -