Transmission X-ray microscopy using X-MCD

Eimüller, T.; Fischer, P.; Köhler, M.; Scholz, M.; Guttmann, P.; Denbeaux, G.; Glück, S.; Bayreuther, G.; Schmahl, G.; Attwood, D.; Schütz, G.

Transmission X-ray microscopy using X-MCD

Eimüller, T., Fischer, P., Köhler, M., Scholz, M., Guttmann, P., Denbeaux, G., Glück, S., Bayreuther, G., Schmahl, G., Attwood, D., & Schütz, G. (2001). Transmission X-ray microscopy using X-MCD. Applied Physics A, 73, 697-701.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-49EA-F 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-49EB-D

資料種別: 学術論文

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Eimüller, T.¹, 著者
Fischer, P.¹, 著者
Köhler, M., 著者
Scholz, M., 著者
Guttmann, P., 著者
Denbeaux, G., 著者
Glück, S., 著者
Bayreuther, G., 著者
Schmahl, G., 著者
Attwood, D., 著者
Schütz, G.¹, 著者

所属:
1Dept. Modern Magnetic Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497648

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Abt. Schütz;

要旨: -

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言語: eng - English

日付: 出版: 2001

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 250765

学位: -

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出版物 1

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出版物名: Applied Physics A

種別: 学術雑誌

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ページ: - 巻号: 73 通巻号: - 開始・終了ページ: 697 - 701 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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