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  Analysis of the diffusion profile along migrating grain boundaries

Lopez, G. A., Zieba, P., Sigle, W., & Mittemeijer, E. J. (2005). Analysis of the diffusion profile along migrating grain boundaries. Defect and Diffusion Forum, 237-240, 1230-1233.

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基本情報

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資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Lopez, G. A.1, 著者           
Zieba, P.2, 著者
Sigle, W.3, 4, 著者           
Mittemeijer, E. J.1, 5, 著者           
所属:
1Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497644              
2Institute of Metallurgy and Materials Science, Polish Academy of Sciences, Cracow, Poland, ou_persistent22              
3Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
4Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
5Universität Stuttgart, Institut für Materialwissenschaft, ou_persistent22              

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM); Abt. Mittemeijer;
 要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2005
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子(DOI, ISBNなど): eDoc: 332660
 学位: -

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訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: Defect and Diffusion Forum
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: 237-240 通巻号: - 開始・終了ページ: 1230 - 1233 識別子(ISBN, ISSN, DOIなど): -