The MRI-model in sputter depth profiling: capabilities, limitations and recent 
progress.

Hofmann, S.; Wang, J. Y.

アイテム詳細

登録内容を編集ファイル形式で保存

The MRI-model in sputter depth profiling: capabilities, limitations and recent progress.

Hofmann, S., & Wang, J. Y. (2006). The MRI-model in sputter depth profiling: capabilities, limitations and recent progress. Journal of Surface Analysis, 13, 142-147.

Item is 公開

表示: 全項目非表示: 全項目

基本情報

表示: 非表示:

アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-489C-5 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-489D-3

資料種別: 学術論文

ファイル

表示: ファイル

作成者

表示:

非表示:

作成者:
Hofmann, S.¹, 著者
Wang, J. Y.¹, 著者

所属:
1Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497644

内容説明

表示:

非表示:

キーワード: MPI für Metallforschung; MPI für Metallforschung; Abt. Mittemeijer; Emeriti and Others;

要旨: -

資料詳細

表示:

非表示:

言語: eng - English

日付: 出版: 2006

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: -

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 335125

学位: -

訴訟

表示:

Project information

表示:

出版物 1

表示:

非表示:

出版物名: Journal of Surface Analysis

種別: 学術雑誌

著者・編者:

所属:

出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 13 通巻号: - 開始・終了ページ: 142 - 147 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

アイテム詳細

基本情報

ファイル

関連URL

作成者

内容説明

資料詳細

関連イベント

訴訟

Project information

出版物 1