EELS studies of the bandgap in GaN using monochromated electrons

Gu, L.; Srot, V.; Sigle, W.; Koch, C. T.; Scholz, F.; Kirchner, C.; Thapa, S. B.; Rühle, M.

EELS studies of the bandgap in GaN using monochromated electrons

Gu, L., Srot, V., Sigle, W., Koch, C. T., Scholz, F., Kirchner, C., Thapa, S. B., & Rühle, M. (2006). EELS studies of the bandgap in GaN using monochromated electrons. In Proceedings of the 16th International Microscopy Congress 2006 (pp. 1484-1484). International Federation of Societies in Microscopy.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-47DF-8 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-47E0-2

資料種別: 会議論文

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Gu, L.¹, 著者
Srot, V.¹, 著者
Sigle, W.¹, 著者
Koch, C. T.¹, 著者
Scholz, F.², 著者
Kirchner, C.², 著者
Thapa, S. B.², 著者
Rühle, M.³, 著者

所属:
1Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669
2Universität Ulm, Albert-Einstein-Allee 45, Ulm, Germany, ou_persistent22
3Emeriti and Others, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, DE, ou_1497650

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キーワード: MPI für Intelligente Systeme; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM); Emeriti and Others;

要旨: -

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言語: eng - English

日付: 出版: 2006

出版の状態: 出版

ページ: -

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査読: -

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 287720

学位: -

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出版物 1

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出版物名: Proceedings of the 16th International Microscopy Congress 2006

種別: 会議論文集

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出版社, 出版地: International Federation of Societies in Microscopy

ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 1484 - 1484 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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