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  Low-loss electron spectroscopy using monochromated electrons

Sigle, W., Srot, V., Gu, L., Koch, C. T., Höschen, R., Essers, E., et al. (2006). Low-loss electron spectroscopy using monochromated electrons. In Proceedings of the 16th International Microscopy Congress 2006 (pp. 811-811). International Federation of Societies in Microscopy.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-47DD-C Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-47DE-A
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Sigle, W.1, Autor           
Srot, V.1, Autor           
Gu, L.1, Autor           
Koch, C. T.1, Autor           
Höschen, R.1, Autor           
Essers, E.2, Autor
Matijevic, M.2, Autor
Benner, G.2, Autor
Thesen, A.2, Autor
Rühle, M.3, Autor           
Affiliations:
1Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
2Carl Zeiss GmbH, Carl-Zeiss-Str. 56, 73447 Oberkochen, Germany, ou_persistent22              
3Emeriti and Others, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, DE, ou_1497650              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Intelligente Systeme; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM); Emeriti and Others;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2006
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 287719
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: 16th International Microscopy Congress - IMC16
Veranstaltungsort: Sapporo, Japan
Start-/Enddatum: 2006-09-03 - 2006-09-08

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Proceedings of the 16th International Microscopy Congress 2006
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: International Federation of Societies in Microscopy
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 811 - 811 Identifikator: -