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  Aspects regarding measurement of thickness of intergranular glassy films

Bhattacharyya, S., Subramaniam, A., Koch, C. T., & Rühle, M. (2006). Aspects regarding measurement of thickness of intergranular glassy films. Journal of Microscopy, 221, 46-62.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-46B9-4 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-46BA-2
Genre: Zeitschriftenartikel
Alternativer Titel : J. Microsc.

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Bhattacharyya, S.1, Autor           
Subramaniam, A.1, Autor           
Koch, C. T.1, 2, Autor           
Rühle, M.3, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
2Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
3Emeriti and Others, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, DE, ou_1497650              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM); Emeriti and Others;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2006
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 282014
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Microscopy
  Alternativer Titel : J. Microsc.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 221 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 46 - 62 Identifikator: -