Examination of structural properties of interfaces by electron diffraction

Koch, C. T.

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Examination of structural properties of interfaces by electron diffraction

Koch, C. T. (2006). Examination of structural properties of interfaces by electron diffraction. Materials Science and Engineering A, 422, 41-50.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-46B1-3 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-46B2-1

資料種別: 学術論文

その他のタイトル : Mat. Sci. Eng. A

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Koch, C. T.^{1, 2}, 著者

所属:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657
2Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Zentrum für Elektronenmikroskopie;

要旨: -

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言語: eng - English

日付: 出版: 2006

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 282006

学位: -

訴訟

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出版物 1

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出版物名: Materials Science and Engineering A

出版物の別名 : Mat. Sci. Eng. A

種別: 学術雑誌

著者・編者:

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出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 422 通巻号: - 開始・終了ページ: 41 - 50 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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