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  Analytical performance of the SESAM microscope

Essers, E., Matijevic, M., Benner, G., Höschen, R., Sigle, W., & Koch, C. (2007). Analytical performance of the SESAM microscope. Microscopy & Microanalysis, 13(Suppl. 3), 18-19.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-443E-A Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-443F-8
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Essers, E.1, Autor
Matijevic, M.1, Autor
Benner, G.1, Autor
Höschen, R.2, 3, Autor           
Sigle, W.2, 3, Autor           
Koch, C.2, 3, Autor           
Affiliations:
1Carl Zeiss NTS GmbH, Oberkochen, Germany, ou_persistent22              
2Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
3Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2007
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Interne Begutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 320730
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: 33rd Microscopy Conference MC 2007 - DGE Tagung (Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie e.V.)
Veranstaltungsort: Saarbrücken
Start-/Enddatum: 2007-09-02 - 2007-09-07

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Microscopy & Microanalysis
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 13 (Suppl. 3) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 18 - 19 Identifikator: -