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  Microstructure characterization of a cobalt-oxide-doped cerium-gadolinium-oxide by analytical and high-resolution TEM

Zhang, Z., Sigle, W., Rühle, M., E. Jud, E., & Gauckler, L. J. (2007). Microstructure characterization of a cobalt-oxide-doped cerium-gadolinium-oxide by analytical and high-resolution TEM. Acta Materialia, 55, 2907-2917.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Zhang, Z., Autor           
Sigle, W.1, Autor           
Rühle, M.2, Autor           
E. Jud, E.3, Autor
Gauckler, L. J.3, Autor
Affiliations:
1Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
2Emeriti and Others, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, DE, ou_1497650              
3Federal Institute of Technology, Zurich, Switzerland, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM); Emeriti and Others;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2007
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 319204
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Acta Materialia
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 55 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 2907 - 2917 Identifikator: -