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  Band-gap measurements of direct and indirect semiconductors using monochromated electrons

Gu, L., Srot, V., Sigle, W., Koch, C., van Aken, P. A., Scholz, F., Thapa, S. B., Kirchner, C., Jetter, M., & Rühle, M. (2007). Band-gap measurements of direct and indirect semiconductors using monochromated electrons. Physical Review B, 75:.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-43AF-5 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-43B0-0
資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Gu, L.1, 著者           
Srot, V.1, 2, 著者           
Sigle, W.1, 2, 著者           
Koch, C.1, 2, 著者           
van Aken, P. A.1, 著者           
Scholz, F.3, 著者
Thapa, S. B.3, 著者
Kirchner, C.3, 著者
Jetter, M.3, 著者
Rühle, M.4, 著者           
所属:
1Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
2Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
3Institute of Optoelectronics, University of Ulm, Ulm, Germany;Institut für Strahlenphysik, University of Stuttgart, Stuttgart, Germany, ou_persistent22              
4Emeriti and Others, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, DE, ou_1497650              

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM); Emeriti and Others;
 要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2007
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 319136
 学位: -

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訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: Physical Review B
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: 75 通巻号: 195214 開始・終了ページ: - 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -