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  Electron backscattering in sputter depth profiling using AED, EPES, and REELS

Hofmann, S. (2008). Electron backscattering in sputter depth profiling using AED, EPES, and REELS. Journal of Surface Analysis, 15(2), 130-138.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4170-1 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4171-0
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Hofmann, S.1, Autor           
Affiliations:
1Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497644              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Emeriti and Others;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2008
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 395318
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Surface Analysis
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 15 (2) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 130 - 138 Identifikator: -