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  Quantitative image matching between experimental and simulated high-resolution transmission electron micrographs

Du, K., Phillipp, F., & Rühle, M. (2008). Quantitative image matching between experimental and simulated high-resolution transmission electron micrographs. Korean Journal of Microscopy, 38(4, Supplement), 514-515.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4158-A Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4159-8
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Du, K., Autor           
Phillipp, F.1, Autor           
Rühle, M.2, Autor           
Affiliations:
1Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, DE, ou_1497669              
2Emeriti and Others, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, DE, ou_1497650              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM); Emeriti and Others;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2008
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Interne Begutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 391277
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: The 9th Asia-Pacific Microscopy Conference (APMC9)
Veranstaltungsort: Jeju, South Korea
Start-/Enddatum: 2008-11-02 - 2008-11-07

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Korean Journal of Microscopy
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 38 (4, Supplement) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 514 - 515 Identifikator: -