Analytical TEM investigations of Pt/YSZ interfaces

Srot, V.; Watanabe, M.; Scheu, C.; van Aken, P. A.; Mutoro, E.; Janek, J.; Rühle, M.

doi:10.1007/978-3-540-85226-1_185

Analytical TEM investigations of Pt/YSZ interfaces

Srot, V., Watanabe, M., Scheu, C., van Aken, P. A., Mutoro, E., Janek, J., & Rühle, M. (2008). Analytical TEM investigations of Pt/YSZ interfaces. In S., Richter, & A., Schwedt (Eds.), EMC2008, 14th European Microscopy Congress, Vol. 2: Materials Science (pp. 369-370). Berlin [et al.]: Springer.

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資料種別: 会議論文

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Srot, V.¹, 著者
Watanabe, M., 著者
Scheu, C., 著者
van Aken, P. A.¹, 著者
Mutoro, E.², 著者
Janek, J.², 著者
Rühle, M.³, 著者

所属:
1Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669
2National Center for Electron Microscopy, Lawrence Berkeley National Laboratory, 1 Cyclotron Rd., Berkeley, CA94720, USA;Department Physical Metallurgy and Materials Testing, University of Leoben, Franz-Josef-Straße 18, Leoben, Austria;Institute of Physical Chemistry, Justus-Liebig-University Gießen, Heinrich-Buff-Ring 58, Gießen, Germany, ou_persistent22
3Emeriti and Others, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, DE, ou_1497650

内容説明

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キーワード: MPI für Intelligente Systeme; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM); Emeriti and Others;

要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English

日付: 出版: 2008

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり（内部）

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 376663
DOI: 10.1007/978-3-540-85226-1_185

学位: -

訴訟

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出版物 1

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出版物名: EMC2008, 14th European Microscopy Congress, Vol. 2: Materials Science

種別: 会議論文集

著者・編者:
Richter, S., 編集者
Schwedt, A., 編集者

所属:
-

出版社, 出版地: Berlin [et al.] : Springer

ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 369 - 370 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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