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  Analytical TEM investigations of Pt/YSZ interfaces

Srot, V., Watanabe, M., Scheu, C., van Aken, P. A., Mutoro, E., Janek, J., et al. (2008). Analytical TEM investigations of Pt/YSZ interfaces. In S. Richter, & A. Schwedt (Eds.), EMC2008, 14th European Microscopy Congress, Vol. 2: Materials Science (pp. 369-370). Berlin [et al.]: Springer.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-40FC-4 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-40FD-2
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Srot, V.1, Autor           
Watanabe, M., Autor           
Scheu, C., Autor           
van Aken, P. A.1, Autor           
Mutoro, E.2, Autor
Janek, J.2, Autor
Rühle, M.3, Autor           
Affiliations:
1Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
2National Center for Electron Microscopy, Lawrence Berkeley National Laboratory, 1 Cyclotron Rd., Berkeley, CA94720, USA;Department Physical Metallurgy and Materials Testing, University of Leoben, Franz-Josef-Straße 18, Leoben, Austria;Institute of Physical Chemistry, Justus-Liebig-University Gießen, Heinrich-Buff-Ring 58, Gießen, Germany, ou_persistent22              
3Emeriti and Others, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, DE, ou_1497650              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Intelligente Systeme; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM); Emeriti and Others;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2008
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Interne Begutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 376663
DOI: 10.1007/978-3-540-85226-1_185
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: 14th European Microscopy Congress
Veranstaltungsort: Aachen, Germany
Start-/Enddatum: 2008-09-01 - 2008-09-05

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: EMC2008, 14th European Microscopy Congress, Vol. 2: Materials Science
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Richter, S., Herausgeber
Schwedt, A., Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: Berlin [et al.] : Springer
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 369 - 370 Identifikator: -