Low-loss-energy EFTEM imaging of triangular silver nanoparticles

Nelayah, J.; Gu, L.; Sigle, W.; Koch, C. T.; Pastoriza-Santos, L.; Liz-Marzan, L. M.; van Aken, P. A.

doi:10.1007/978-3-540-85226-1_122

Low-loss-energy EFTEM imaging of triangular silver nanoparticles

Nelayah, J., Gu, L., Sigle, W., Koch, C. T., Pastoriza-Santos, L., Liz-Marzan, L. M., & van Aken, P. A. (2008). Low-loss-energy EFTEM imaging of triangular silver nanoparticles. In S., Richter, & A., Schwedt (Eds.), EMC2008, 14th European Microscopy Congress, Vol. 2: Materials Science (pp. 243-244). Berlin [et al.: Springer.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-40FA-8 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-40FB-6

資料種別: 会議論文

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Nelayah, J.¹, 著者
Gu, L.¹, 著者
Sigle, W.^{1, 2}, 著者
Koch, C. T.^{1, 2}, 著者
Pastoriza-Santos, L.³, 著者
Liz-Marzan, L. M.³, 著者
van Aken, P. A.¹, 著者

所属:
1Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669
2Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657
3Departemento de Quimica Fisica, Universidade de Vigo, 36310, Vigo, Spain, ou_persistent22

内容説明

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キーワード: MPI für Intelligente Systeme; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);

要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English

日付: 出版: 2008

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり（内部）

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 376655
DOI: 10.1007/978-3-540-85226-1_122

学位: -

訴訟

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出版物 1

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出版物名: EMC2008, 14th European Microscopy Congress, Vol. 2: Materials Science

種別: 会議論文集

著者・編者:
Richter, S., 編集者
Schwedt, A., 編集者

所属:
-

出版社, 出版地: Berlin [et al. : Springer

ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 243 - 244 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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