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  Band gap mapping using monochromated electrons

Gu, L., Sigle, W., Koch, C. T., Srot, V., Nelayah, J., & van Aken, P. A. (2008). Band gap mapping using monochromated electrons. In M. Luysberg, K. Tillmann, & T. Weirich (Eds.), EMC2008, 14th European Microscopy Congress, Vol. 1: Instrumentation and Methods (pp. 381-382). Berlin [et al.]: Springer.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-40EE-4 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-40EF-2
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Gu, L.1, Autor           
Sigle, W.1, 2, Autor           
Koch, C. T.1, 2, Autor           
Srot, V.1, 2, Autor           
Nelayah, J.1, Autor           
van Aken, P. A.1, Autor           
Affiliations:
1Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
2Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Intelligente Systeme; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2008
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Interne Begutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 376640
DOI: 10.1007/978-3-540-85226-1_191
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: 14th European Microscopy Congress
Veranstaltungsort: Aachen, Germany
Start-/Enddatum: 2008-09-01 - 2008-09-05

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: EMC2008, 14th European Microscopy Congress, Vol. 1: Instrumentation and Methods
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Luysberg, M., Herausgeber
Tillmann, K., Herausgeber
Weirich, T., Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: Berlin [et al.] : Springer
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 381 - 382 Identifikator: -