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  Investigation of metal-induced crystallization in amorphous Ge/crystalline Al bilayers by Auger microanalysis and selected-area depth profiling

Wang, Z. M., Wang, J. Y., Jeurgens, L. P. H., & Mittemeijer, E. J. (2008). Investigation of metal-induced crystallization in amorphous Ge/crystalline Al bilayers by Auger microanalysis and selected-area depth profiling. Surface and Interface Analysis, 40, 427-437. doi:10.1002/sia.2626.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-40C1-4 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-40C2-2
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Wang, Z. M.1, Autor           
Wang, J. Y.1, Autor           
Jeurgens, L. P. H.1, Autor           
Mittemeijer, E. J.1, 2, Autor           
Affiliations:
1Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497644              
2Universität Stuttgart, Institut für Materialwissenschaft, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Mittemeijer;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2008
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 372465
DOI: 10.1002/sia.2626
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Surface and Interface Analysis
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 40 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 427 - 437 Identifikator: -