In-situ X-ray scattering studies of OFET interfaces

Gerlach, A.; Sellner, S.; Kowarik, S.; Schreiber, F.

doi:10.1002/pssa.200723411

In-situ X-ray scattering studies of OFET interfaces

Gerlach, A., Sellner, S., Kowarik, S., & Schreiber, F. (2008). In-situ X-ray scattering studies of OFET interfaces. Physica Status Solidi A, 205(3), 461-474. doi:10.1002/pssa.200723411.

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資料種別: 学術論文

その他のタイトル : phys.stat.sol a

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Gerlach, A.¹, 著者
Sellner, S.², 著者
Kowarik, S.¹, 著者
Schreiber, F.³, 著者

所属:
1Institut für Angewandte Physik, Universität Tübingen, Auf der Morgenstelle 10, 72076 Tübingen, Germany; Max-Planck-Institut für Metallforschung, Heisenbergstr. 3, 70569 Stuttgart, Germany; School of Engineering and Applied Sciences, Harbard Universtity, 29 Oxford Street, Cambridge, MA-02138, USA, ou_persistent22
2Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497645
3Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497644

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Abt. Dosch;

要旨: -

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言語: eng - English

日付: 出版: 2008-02-25

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 414446
DOI: 10.1002/pssa.200723411

学位: -

訴訟

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出版物 1

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出版物名: Physica Status Solidi A

出版物の別名 : phys.stat.sol a

種別: 学術雑誌

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出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 205 (3) 通巻号: - 開始・終了ページ: 461 - 474 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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