Mapping of valence energy losses via energy-filtered annular dark-field 
scanning transmission electron microscopy

Gu, L.; Sigle, W.; Koch, C. T.; Nelayah, J.; Srot, V.; van Aken, P. A.

doi:10.1016/j.ultramic.2009.05.001

Mapping of valence energy losses via energy-filtered annular dark-field scanning transmission electron microscopy

Gu, L., Sigle, W., Koch, C. T., Nelayah, J., Srot, V., & van Aken, P. A. (2009). Mapping of valence energy losses via energy-filtered annular dark-field scanning transmission electron microscopy. Ultramicroscopy, 109, 1164-1170. doi:10.1016/j.ultramic.2009.05.001.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3E34-2 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3E35-F

資料種別: 学術論文

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Gu, L.¹, 著者
Sigle, W.^{1, 2}, 著者
Koch, C. T.^{1, 2}, 著者
Nelayah, J.¹, 著者
Srot, V.^{1, 2}, 著者
van Aken, P. A.¹, 著者

所属:
1Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669
2Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);

要旨: -

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言語: eng - English

日付: 出版: 2009

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 437025
DOI: 10.1016/j.ultramic.2009.05.001

学位: -

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出版物 1

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出版物名: Ultramicroscopy

種別: 学術雑誌

著者・編者:

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出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 109 通巻号: - 開始・終了ページ: 1164 - 1170 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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