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  Mapping of valence energy losses via energy-filtered annular dark-field scanning transmission electron microscopy

Gu, L., Sigle, W., Koch, C. T., Nelayah, J., Srot, V., & van Aken, P. A. (2009). Mapping of valence energy losses via energy-filtered annular dark-field scanning transmission electron microscopy. Ultramicroscopy, 109, 1164-1170. doi:10.1016/j.ultramic.2009.05.001.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3E34-2 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3E35-F
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Gu, L.1, Autor           
Sigle, W.1, 2, Autor           
Koch, C. T.1, 2, Autor           
Nelayah, J.1, Autor           
Srot, V.1, 2, Autor           
van Aken, P. A.1, Autor           
Affiliations:
1Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
2Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2009
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 437025
DOI: 10.1016/j.ultramic.2009.05.001
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Ultramicroscopy
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 109 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1164 - 1170 Identifikator: -