EFTEM tomography on nanomaterials

Jin-Phillipp, N. Y.; Koch, C. T.; van Aken, P. A.

doi:10.3217/978-3-85125-062-6-035

EFTEM tomography on nanomaterials

Jin-Phillipp, N. Y., Koch, C. T., & van Aken, P. A. (2009). EFTEM tomography on nanomaterials. In G., Kothleitner, & M., Leisch (Eds.), MC2009. Vol. 1: Instrumentation and Methodology (pp. 73-74). Graz: Verlag der Technischen Universität Graz, Austria.

Item is 公開

表示: 全項目非表示: 全項目

基本情報

表示: 非表示:

アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3E13-C 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3E14-A

資料種別: 会議論文

ファイル

表示: ファイル

作成者

表示:

非表示:

作成者:
Jin-Phillipp, N. Y.^{1, 2, 3}, 著者
Koch, C. T.^{1, 3}, 著者
van Aken, P. A.³, 著者

所属:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657
2Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497645
3Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669

内容説明

表示:

非表示:

キーワード: MPI für Intelligente Systeme; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);

要旨: -

資料詳細

表示:

非表示:

言語: eng - English

日付: 出版: 2009

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり（内部）

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 435823
DOI: 10.3217/978-3-85125-062-6-035

学位: -

訴訟

表示:

Project information

表示:

出版物 1

表示:

非表示:

出版物名: MC2009. Vol. 1: Instrumentation and Methodology

種別: 会議論文集

著者・編者:
Kothleitner, G., 編集者
Leisch, M., 編集者

所属:
-

出版社, 出版地: Graz : Verlag der Technischen Universität Graz, Austria

ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 73 - 74 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

アイテム詳細

基本情報

ファイル

関連URL

作成者

内容説明

資料詳細

関連イベント

訴訟

Project information

出版物 1