Various transmission electron microscopic techniques to characterize phase 
separation – illustrated using a LaF3 containing aluminosilicate glass

Bhattacharyya, S.; Höche, T.; Hahn, K.; van Aken, P. A.

doi:10.1016/j.jnoncrysol.2008.12.005

Various transmission electron microscopic techniques to characterize phase separation – illustrated using a LaF₃ containing aluminosilicate glass

Bhattacharyya, S., Höche, T., Hahn, K., & van Aken, P. A. (2009). Various transmission electron microscopic techniques to characterize phase separation – illustrated using a LaF₃ containing aluminosilicate glass. Journal of Non-Crystalline Solids, 355, 393-396. doi:10.1016/j.jnoncrysol.2008.12.005.

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資料種別: 学術論文

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Bhattacharyya, S.¹, 著者
Höche, T.², 著者
Hahn, K.^{1, 3}, 著者
van Aken, P. A.³, 著者

所属:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657
2Leibniz-Institut für Oberflächenmodifizierung e. V., Permoserstraße 15, D-04318 Leipzig, Germany, ou_persistent22
3Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669

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キーワード: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);

要旨: -

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言語: eng - English

日付: 出版: 2009

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 429103
DOI: 10.1016/j.jnoncrysol.2008.12.005

学位: -

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出版物 1

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出版物名: Journal of Non-Crystalline Solids

種別: 学術雑誌

著者・編者:

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出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 355 通巻号: - 開始・終了ページ: 393 - 396 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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