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  Evidence for a layer-dependent Ehrlich-Schwöbel barrier in organic thin film growth

Zhang, X.., Barrena, E., Goswami, D., de Oteyza, D. G., Weis, C., & Dosch, H. (2009). Evidence for a layer-dependent Ehrlich-Schwöbel barrier in organic thin film growth. Physical Review Letters, 103: 136101. doi:10.1103/PhysRevLett.103.136101.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3C95-5 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0023-DA7F-6
Genre: Zeitschriftenartikel
Alternativer Titel : PRL

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Zhang, X .N.1, Autor           
Barrena, E.1, Autor           
Goswami, D.1, Autor           
de Oteyza, D. G.1, Autor           
Weis, C.1, Autor           
Dosch, H.1, 2, Autor           
Affiliations:
1Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497645              
2Universität Stuttgart, Institut für Theoretische und Angewandte Physik, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Dosch/Rühle;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2009-09-22
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 4 pages
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 436524
DOI: 10.1103/PhysRevLett.103.136101
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Physical Review Letters
  Alternativer Titel : PRL
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 103 Artikelnummer: 136101 Start- / Endseite: - Identifikator: -