3D Elemental mapping in nanomaterials by core-loss EFTEM tomography

Jin-Phillipp, N. Y.; Koch, C. T.; van Aken, P. A.

doi:10.1017/S1431927610056357

3D Elemental mapping in nanomaterials by core-loss EFTEM tomography

Jin-Phillipp, N. Y., Koch, C. T., & van Aken, P. A. (2010). 3D Elemental mapping in nanomaterials by core-loss EFTEM tomography. Microscopy and Microanalysis, 16(Suppl. 2), 1842-1843.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3C15-3 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3C16-1

資料種別: 会議論文

その他のタイトル : Microsc. Microanal.

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Jin-Phillipp, N. Y.^{1, 2, 3}, 著者
Koch, C. T.^{1, 3}, 著者
van Aken, P. A.³, 著者

所属:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657
2Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497645
3Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);

要旨: -

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言語: eng - English

日付: 出版: 2010

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり（内部）

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 493458
DOI: 10.1017/S1431927610056357

学位: -

訴訟

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出版物 1

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出版物名: Microscopy and Microanalysis

出版物の別名 : Microsc. Microanal.

種別: 学術雑誌

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出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 16 (Suppl. 2) 通巻号: - 開始・終了ページ: 1842 - 1843 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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