Characterization of ytterbium silicide formed in ultra high vacuum

Łaszcz, A.; Ratajczak, J.; Czerwinski, A.; Kątcki, J.; Srot, V.; Phillipp, F.; van Aken, P. A.; Yarekha, D.; Reckinger, N.; Larrieu, G.; Dubois, E.

doi:10.1088/1742-6596/209/1/012056

Characterization of ytterbium silicide formed in ultra high vacuum

Łaszcz, A., Ratajczak, J., Czerwinski, A., Kątcki, J., Srot, V., Phillipp, F., van Aken, P. A., Yarekha, D., Reckinger, N., Larrieu, G., & Dubois, E. (2010). Characterization of ytterbium silicide formed in ultra high vacuum. Journal of Physics: Conference Series, 209:.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3B75-4 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3B76-2

資料種別: 会議論文

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Łaszcz, A.¹, 著者
Ratajczak, J.¹, 著者
Czerwinski, A.¹, 著者
Kątcki, J.¹, 著者
Srot, V.², 著者
Phillipp, F.², 著者
van Aken, P. A.², 著者
Yarekha, D.¹, 著者
Reckinger, N.¹, 著者
Larrieu, G.¹, 著者
Dubois, E.¹, 著者

所属:
1Institute of Electron Technology, Al. Lotników 32/46, 02-668 Warsaw, Poland;IEMN/ISEN, UMRS CNRS 8520, Avenue Poincare, Cite Scientifique, BP 69, 59652 Villeneuve d’Ascq Cedex, France;Université catholique de Louvain, Place du Levant 3, B-1348 Louvain-la-Neuve, Belgium., ou_persistent22
2Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);

要旨: -

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言語: eng - English

日付: 出版: 2010

出版の状態: 出版

ページ: -

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目次: -

査読: -

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 466661
DOI: 10.1088/1742-6596/209/1/012056

学位: -

訴訟

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出版物 1

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出版物名: Journal of Physics: Conference Series

種別: 学術雑誌

著者・編者:

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出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 209 通巻号: 012056 開始・終了ページ: - 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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