Transmission electron microscopy characterization of Au/Pt/Ti/Pt/GaAs ohmic 
contacts for high power GaAs/InGaAs semiconductor lasers

Łaszcz, A.; Czerwinski, A.; Ratajczak, J.; Szerling, A.; Phillipp, F.; van Aken, P. A.; Katcki, J.

doi:10.1111/j.1365-2818.2009.03258.x

Transmission electron microscopy characterization of Au/Pt/Ti/Pt/GaAs ohmic contacts for high power GaAs/InGaAs semiconductor lasers

Łaszcz, A., Czerwinski, A., Ratajczak, J., Szerling, A., Phillipp, F., van Aken, P. A., & Katcki, J. (2010). Transmission electron microscopy characterization of Au/Pt/Ti/Pt/GaAs ohmic contacts for high power GaAs/InGaAs semiconductor lasers. Journal of Microscopy, 237(3), 347-351.

Item is 公開

表示: 全項目非表示: 全項目

基本情報

表示: 非表示:

アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3B67-4 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3B69-F

資料種別: 会議論文

ファイル

表示: ファイル

作成者

表示:

非表示:

作成者:
Łaszcz, A.¹, 著者
Czerwinski, A.¹, 著者
Ratajczak, J.¹, 著者
Szerling, A.¹, 著者
Phillipp, F.², 著者
van Aken, P. A.², 著者
Katcki, J.¹, 著者

所属:
1Institute of Electron Technology, Al. Lotnikow 32/46, 02–668 Warsaw, Poland., ou_persistent22
2Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669

内容説明

表示:

非表示:

キーワード: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);

要旨: -

資料詳細

表示:

非表示:

言語: eng - English

日付: 出版: 2010

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 458891
DOI: 10.1111/j.1365-2818.2009.03258.x

学位: -

訴訟

表示:

Project information

表示:

出版物 1

表示:

非表示:

出版物名: Journal of Microscopy

種別: 学術雑誌

著者・編者:

所属:

出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 237 (3) 通巻号: - 開始・終了ページ: 347 - 351 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

アイテム詳細

基本情報

ファイル

関連URL

作成者

内容説明

資料詳細

関連イベント

訴訟

Project information

出版物 1