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  The role of Si impurities in the transient dopant segregation and precipitation in yttrium-doped alumina

Sturm, S., Gülgün, M. A., Richter, G., Morales, F. M., Cannon, R. M., & Rühle, M. (2010). The role of Si impurities in the transient dopant segregation and precipitation in yttrium-doped alumina. International Journal of Materials Research, 101, 95-101.

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基本情報

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資料種別: 会議論文

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作成者

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 作成者:
Sturm, S., 著者           
Gülgün, M. A., 著者           
Richter, G.1, 著者           
Morales, F. M., 著者           
Cannon, R. M., 著者           
Rühle, M.2, 著者           
所属:
1Central Scientific Facility Thin Film Laboratory, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497640              
2Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, DE, ou_1497645              

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Emeriti and Others; Abt. Arzt; ZWE Dünnschichtlabor;
 要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2010-01-01
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子(DOI, ISBNなど): eDoc: 463862
DOI: 10.3139/146.110258
 学位: -

関連イベント

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イベント名: 7th International Workshop on Interfaces - New Materials via Interfacial Control
開催地: Santiago de Compostela, Spain
開始日・終了日: 2008-06-22 - 2008-06-26

訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: International Journal of Materials Research
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: 101 通巻号: - 開始・終了ページ: 95 - 101 識別子(ISBN, ISSN, DOIなど): -