Distribution of ions near a charged selective surface in critical binary 
solvents

Ciach, A.; Maciolek, A.

doi:10.1103/PhysRevE.81.041127

Distribution of ions near a charged selective surface in critical binary solvents

Ciach, A., & Maciolek, A. (2010). Distribution of ions near a charged selective surface in critical binary solvents. Physical Review E, 81(4):. doi:10.1103/PhysRevE.81.041127.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3AE5-1 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3AE6-0

資料種別: 学術論文

その他のタイトル : Phys. Rev. E

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Ciach, A.¹, 著者
Maciolek, A.², 著者

所属:
1Institute of Physical Chemistry, Polish Academy of Sciences, Kasprzaka 44/52, PL-01-224 Warsaw, Poland; Institut für Theoretische und Angewandte Physik, Universität Stuttgart, Pfaffenwaldring 57, D-70569 Stuttgart, Germany, ou_persistent22
2Dept. Theory of Inhomogeneous Condensed Matter, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497643

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Abt. Dietrich; Critical Phenomena;

要旨: -

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言語: eng - English

日付: 出版: 2010-04-22

出版の状態: 出版

ページ: 11 pages

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 476842
DOI: 10.1103/PhysRevE.81.041127

学位: -

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出版物名: Physical Review E

出版物の別名 : Phys. Rev. E

種別: 学術雑誌

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ページ: - 巻号: 81 (4) 通巻号: 041127 開始・終了ページ: - 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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