Diffraction-line broadening analysis of strain fields in crystalline solids

Berkum, J. G. M. van; Delhez, R.; Keijser, T. H. de; Mittemeijer, E. J.

Diffraction-line broadening analysis of strain fields in crystalline solids

Berkum, J. G. M. v., Delhez, R., Keijser, T. H. d., & Mittemeijer, E. J. (2000). Diffraction-line broadening analysis of strain fields in crystalline solids. In R., Snyder, J., Fiala, & H., Bunge (Eds.), Defect and Microstructure Analysis by Diffraction (pp. 214-233). Oxford: Oxford University Press.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-39BE-1 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-39BF-0

資料種別: 書籍の一部

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Berkum, J. G. M. van, 著者
Delhez, R., 著者
Keijser, T. H. de, 著者
Mittemeijer, E. J.^{1, 2}, 著者

所属:
1Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497644
2Universität Stuttgart, Institut für Materialwissenschaft, ou_persistent22

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Abt. Mittemeijer;

要旨: -

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言語: eng - English

日付: 出版: 2000

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: -

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 232391

学位: -

訴訟

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出版物 1

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出版物名: Defect and Microstructure Analysis by Diffraction

種別: 書籍

著者・編者:
Snyder, R.L., 編集者
Fiala, J., 編集者
Bunge, H.J., 編集者

所属:
-

出版社, 出版地: Oxford : Oxford University Press

ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 214 - 233 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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