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  The role of microanalysis in the characterization of interfaces

Rühle, M., Elsässer, C., Scheu, C., & Sigle, W. (2000). The role of microanalysis in the characterization of interfaces. In D. B. Williams, & R. Shimizu (Eds.), Microbeam Analysis 2000: Proceedings of the Second Conference of the International Union of Microbeam Analysis Societies (pp. 1-2). Bristol: Institute of Physics Publ.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Rühle, M.1, Autor           
Elsässer, C.1, Autor           
Scheu, C.1, Autor           
Sigle, W.1, 2, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
2Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Rühle;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2000
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 204332
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Microbeam Analysis 2000. Second Conference of the International Union of Microbeam Analysis Societies
Veranstaltungsort: Kailua-Kona, Hawai
Start-/Enddatum: 2000-07-09 - 2007-07-14

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Microbeam Analysis 2000: Proceedings of the Second Conference of the International Union of Microbeam Analysis Societies
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Williams, D. B., Herausgeber
Shimizu, R., Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: Bristol : Institute of Physics Publ.
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1 - 2 Identifikator: -

Quelle 2

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Titel: Institute of Physics Conference Series
Genre der Quelle: Reihe
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 165 Artikelnummer: - Start- / Endseite: - Identifikator: -