EDS study of planar faults in SrO doped SrTiO3

Sturm, S.; Recnik, A.; Scheu, C.; Ceh, M.

EDS study of planar faults in SrO doped SrTiO₃

Sturm, S., Recnik, A., Scheu, C., & Ceh, M. (2000). EDS study of planar faults in SrO doped SrTiO₃. In J., Gemperlova, & I., Vavra (Eds.), Proceedings of the 12th European Congress on Electron Microscopy. Vol. 2: Physical Sciences (pp. 221-222). Czechoslovak Society for Electron Microscopy.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-384E-7 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-384F-5

資料種別: 会議論文

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Sturm, S.¹, 著者
Recnik, A., 著者
Scheu, C.¹, 著者
Ceh, M., 著者

所属:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Abt. Rühle;

要旨: -

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言語: eng - English

日付: 出版: 2000

出版の状態: 出版

ページ: -

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識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 198911

学位: -

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出版物 1

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出版物名: Proceedings of the 12th European Congress on Electron Microscopy. Vol. 2: Physical Sciences

種別: 会議論文集

著者・編者:
Gemperlova, J., 編集者
Vavra, I., 編集者

所属:
-

出版社, 出版地: Czechoslovak Society for Electron Microscopy

ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 221 - 222 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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