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  Ultra-high resolution electron microscopy investigations of growth defects in CVD diamond films: twin interactions and five-fold twin centres

Delclos, S., Dorignac, D., Phillipp, F., Silva, F., & Gisquel, A. (2000). Ultra-high resolution electron microscopy investigations of growth defects in CVD diamond films: twin interactions and five-fold twin centres. Diamond and Related Materials, 9, 346-350.

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基本情報

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資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Delclos, S.1, 著者
Dorignac, D.1, 著者
Phillipp, Fritz2, 著者           
Silva, F.1, 著者
Gisquel, A.1, 著者
所属:
1Centre d'Elaboration de Matériaux et d'Etudes Structurales, CNRS, BP4347, 31055 Toulouse, FranceLaboratoire d'Ingénierie des Matériaux et des Hautes Pressions, CNRS, Avenue Jean-Baptiste Clément, 93430 Villetaneuse, France, ou_persistent22              
2Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, DE, ou_1497657              

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Ehemalige Abt. Rühle; ZWE Hochspannungs-Mikroskopie;
 要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2000
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子(DOI, ISBNなど): eDoc: 43726
 学位: -

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出版物 1

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出版物名: Diamond and Related Materials
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: 9 通巻号: - 開始・終了ページ: 346 - 350 識別子(ISBN, ISSN, DOIなど): -