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  The preparation of TEM-specimens using Focused Ion Beam (FIB)

Spolenak, R., Heiland, B., Witt, C., Keller, R. M., Müllner, P., & Arzt, E. (2000). The preparation of TEM-specimens using Focused Ion Beam (FIB). Praktische Metallographie - Practical Metallography, 37(2), 90-101.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3742-7 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3743-5
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Spolenak, R.1, Autor           
Heiland, B.1, Autor           
Witt, C.1, Autor           
Keller, R. M., Autor
Müllner, P.1, Autor           
Arzt, E.1, 2, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              
2Universität Stuttgart, Institut für Metallkunde, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Arzt;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2000-02
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 204331
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Praktische Metallographie - Practical Metallography
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 37 (2) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 90 - 101 Identifikator: -