Advances in energy-filtering transmission electron microscopy

Sigle, W.; Zern, A.; Hahn, K.; Eigenthaler, U.; Rühle, M.

Advances in energy-filtering transmission electron microscopy

Sigle, W., Zern, A., Hahn, K., Eigenthaler, U., & Rühle, M. (2001). Advances in energy-filtering transmission electron microscopy. Journal of Electron Microscopy, 50(6), 509-515.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3618-D 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3619-B

資料種別: 学術論文

その他のタイトル : J. Electron Microsc.

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Sigle, W.^{1, 2}, 著者
Zern, A.¹, 著者
Hahn, K.^{1, 2}, 著者
Eigenthaler, U.^{1, 3}, 著者
Rühle, M.¹, 著者

所属:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657
2Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669
3Scientific Staff Assembly Dual Beam, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497668

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Abt. Rühle; 27-ru_2002; energy-filtering transmission electron microscopy (EFTEM); bond mapping; amorphous materials; reduced density function; aberration correction; electron diffraction.

要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English

日付: 出版: 2001

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 24342
ISI: 000173995200013

学位: -

訴訟

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出版物 1

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出版物名: Journal of Electron Microscopy

出版物の別名 : J. Electron Microsc.

種別: 学術雑誌

著者・編者:

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出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 50 (6) 通巻号: - 開始・終了ページ: 509 - 515 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 0022-0744

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