Is atomic resolution EELS possible?

Möbus, G.; Nufer, S.

Is atomic resolution EELS possible?

Möbus, G., & Nufer, S. (2001). Is atomic resolution EELS possible? In M., Aindow, & C. J., Kiely (Eds.), Electron microscopy and analysis 2001. Proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference (pp. 151-154). Bristol: IOP Publishing Ltd.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-360B-B 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-360C-9

資料種別: 会議論文

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作成者:
Möbus, G.¹, 著者
Nufer, S.², 著者

所属:
1Univ Oxford, Dept Mat, Parks Rd, Oxford OX1 3PH, England; Univ Oxford, Dept Mat, Oxford OX1 3PH, England;, ou_persistent22
2Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Ehemalige Abt. Rühle;

要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English

日付: 出版: 2001

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: -

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 24126
ISI: 000176200500036

学位: -

訴訟

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出版物 1

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出版物名: Electron microscopy and analysis 2001. Proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference

種別: 会議論文集

著者・編者:
Aindow, Mark, 編集者
Kiely, Chris J., 編集者

所属:
-

出版社, 出版地: Bristol : IOP Publishing Ltd.

ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 151 - 154 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

出版物 2

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出版物名: Institute of Physics Conference Series

種別: 連載記事

著者・編者:

所属:

出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 168 通巻号: - 開始・終了ページ: - 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 0951-3248

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