Microstructure and modifications of Cu/Al2O3 interfaces

Scheu, C.; Stein, W.; Klein, S.; Wagner, T.; Tomsia, A. P.; Rühle, M.

Microstructure and modifications of Cu/Al₂O₃ interfaces

Scheu, C., Stein, W., Klein, S., Wagner, T., Tomsia, A. P., & Rühle, M. (2001). Microstructure and modifications of Cu/Al₂O₃ interfaces. Zeitschrift für Metallkunde, 92(7), 707-711.

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資料種別: 学術論文

その他のタイトル : Z. Metallk.

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eDoc_access: INSTITUT

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Scheu, C.¹, 著者
Stein, W.¹, 著者
Klein, S.¹, 著者
Wagner, T.², 著者
Tomsia, A. P.¹, 著者
Rühle, M.¹, 著者

所属:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657
2Central Scientific Facility Thin Film Laboratory, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497640

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Abt. Rühle; Abt. Arzt; ZWE Dünnschichtlabor; Cu/Al2O3 interfaces; microstructure; transmission electron microscopy

要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English

日付: 出版: 2001-07

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 21098
ISI: 000170317800013

学位: -

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出版物名: Zeitschrift für Metallkunde

出版物の別名 : Z. Metallk.

種別: 学術雑誌

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出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 92 (7) 通巻号: - 開始・終了ページ: 707 - 711 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 0044-3093

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